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用遗传算法构造最优测试树

         

摘要

测试树问题属一类应用十分广泛的二元识别问题范畴,求解最优测试树是一个NP完全问题,本文提出了基于遗传算法构造最优测试树的方法,并通过实例研究了算法的有效性。研究结果表明,遗传算法具有全局搜索、并行求解能力,是求解最优测试树问题的一个非常有效的方法。

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