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编程表征微颗粒结构的一种新方法

         

摘要

介绍了通过实现编程对透射电镜照片上单个颗粒进行进一步分析的一种新方法,阐明了程序的设计原理.详细讨论了使用该程序来分析圆形颗粒在特定径向上颗粒材质、颗粒内部的孔隙分布状况及在径向上颗粒材质密度统计分布状况.利用该方法可以获得普通表征方法无法得到的有关颗粒生长过程及颗粒内部材质和孔隙分布的重要信息.

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