用扫描压电显微术观察不同掺杂PZT薄膜的铁电畴分布

舒剑; 于艳菊; 巴龙

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我们用扫描压电显微术,观察了未掺杂和掺La、Eu的PZT的铁电畴分布,结果表明: 在自发极化下,用溶胶-凝胶法得到的PZT,(Pb0.93La0.07)(Ti0.6Zr 0.4)O3, (Pb0.95Eu0.05)(Zr0.52Ti0.48)O3和(Pb 0.9Eu0.1)(Zr0.52Ti0.48)O3的表面铁电畴呈现较大的不同,掺 La和掺Eu的样品均比未掺杂的有较大的自发极化.含Eu为5%时自发极化强度最高,且大部分畴界位置与晶界接近.通过改变加在探针上交变电压的幅值,观察铁电畴衬度的变化,可以看到 ,当交变电压升高时,某些畴变得不稳定,极化方向不同于自发极化,而衬度随交变电压线性增加,表明该区域晶粒在垂直方向贯通膜面,矫顽力高于外电场,且无明显的缺陷所致的压电性损失.

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来源
《电子显微学报》 |2003年第2期|172-175|共4页
作者
舒剑; 于艳菊; 巴龙;
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作者单位

东南大学分子与生物分子电子学实验室,江苏,南京,210096;

哈尔滨工业大学材料科学与工程学院,黑龙江,哈尔滨,150001;

东南大学分子与生物分子电子学实验室,江苏,南京,210096;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类显微镜;电子光学仪器;
关键词
铁电薄膜; 扫描力显微术; 铁电畴; 掺杂PZT;

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