SIMS在半导体分离器件剖析中的应用

机译：通过优化SIMS深度剖析中的深度分辨率来表征纳米级半导体器件中的界面

机译：通过SEM / EDX和SIMS深度剖析研究用于微电子器件的Al _x Ga _（1-x）N / GaN /蓝宝石异质结构中的金属互扩散

机译：SIMS深度剖析中半导体Ⅲ-Ⅴ/Ⅲ-Ⅴ和Ⅱ-Ⅵ/Ⅲ-Ⅴ异质结构界面上的离子刻蚀效应

机译：新型FIB-SIMS仪器在SIMS图像深度剖析中的应用

机译：有机光电半导体器件的研究：阳极表面蚀刻，在新颖的集成结构中的应用以及对光电器件中光电流特性的分析。

机译：CuPc：掺杂的影响及其在柔性器件中应用的有机半导体性质的研究

机译：单壁碳纳米管的金属-半导体分离及其在电子器件中的应用

机译：用于光学和光电器件应用的介观结构薄膜中的半导体纳米晶体;最终的评论。 2005年3月1日至2006年11月30日

机译：向半导体集成电路中的感测放大器电路提供参考电势的方法，半导体集成电路，配备有许多半导体集成电路的半导体器件以及使用该simconductor器件的电子设备

机译：促进模块化处理单元框架的机制及其在异步并行分离半导体器件处理和测试中的应用

机译：异质结和双通道半导体器件，其在场效应晶体管中的应用，及其在负极性晶体管器件中的应用