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熊志平; 余殷雷; 黄维康;
复旦大学ASIC国家重点实验室,上海,200433;
部分扫描; 可控性; 可观性; 扫描触发器选择; 故障模拟;
机译:触发器选择用于部分增强型扫描,以减少过渡测试数据量
机译:基于逻辑冗余修复和推式规则设计的可修复扫描触发器的良率和可靠性改进方法
机译:基于n折线排列结构的部分扫描设计方法以及纯负载/保持触发器的状态合理性
机译:一种为大型电路选择部分扫描触发器的实用方法
机译:测试点,部分扫描和全扫描触发器插入的信息理论和频谱方法,以提高集成电路的可测试性
机译:从间歇性扫描葡萄糖监测到混合动力的道路闭环系统:A部分。成功的关键:主题简介选择方法系统教育
机译:利用符号技术进行部分扫描触发器选择
机译:spERT I熔丝触发测试第一部分发展触发器的反应器测试第二部分发展触发器的讨论和分析
机译:选择部分扫描触发器以中断反馈周期
机译:测试点,部分扫描和全扫描触发器插入的光谱和信息理论方法可提高集成电路的可测试性
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