基于k-邻域前景像素分析的划痕提取方法

李家宏; 陈斌

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基于k-邻域前景像素分析的划痕提取方法

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针对有划痕的金属面板背景上出现的不规则纹理,导致无法使用常用的结合边缘检测算法、形态学方法以及基于8邻域的连通域分析法来对划痕进行完整的提取并分析的问题,提出一种基于k-邻域的前景像素分析法和基于方向及距离的合并法来对前景像素区域进行有效的归并,达到对划痕有效完整提取的目的.首先,针对背景上出现的不规则纹理或噪声,采用高斯滤波器对图像进行高斯滤波;然后,针对高斯滤波同时虚弱背景噪声与划痕,采用Sobel边缘检测算子对划痕区域进行锐化,并对结果进行二值化操作;最后,采用基于k-邻域的前景像素分析法来合并距离较近但并不连通的小前景像素团块;对于合并后得到的相隔距离较远的前景像素团块,根据各个团块中前景像素的方向以及团块之间的距离,对其进行归并.将所提方法运用于产品外观检测系统,对90张采集到的原始图片进行划痕检测,划痕提取的准确率高达95％,完整性达到80％,实验结果表明,所提方法为划痕检测提供一种简单、高效的方法.

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来源
《计算机应用》 |2017年第z2期|175-178|共4页
作者
李家宏; 陈斌;
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作者单位

中国科学院成都计算机应用研究所;

中国科学院大学;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类模式识别与装置;
关键词
划痕提取; 高斯滤波; 边缘检测; 连通域分析; 连通域归并;

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