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基于三级灰度模型空间矩的陶瓷基片尺寸测量

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摘要

分析了图像边缘二级灰度模型空间矩的亚像素细分算法及其原理误差,建立了更符合实际的图像边缘三级灰度模型,推导出三级灰度模型下任意角度图像边缘的二维空间矩以及边缘的亚像素位置函数.将该算法应用于陶瓷基片的尺寸测量和分类中,测量效果好、分类精度高.该方法在零件尺寸的高精度测量中具有较高的实用价值.

著录项

来源
《计算机应用》 |2008年第7期|1729-1731|共3页
作者
李军利; 李元宗;
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作者单位

太原理工大学;

机械工程学院;

太原;

030024;

太原理工大学;

机械工程学院;

太原;

030024;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类 TP391.41;
关键词
灰度模型; 空间矩; 陶瓷基片; 亚像素; 尺寸测量;

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