多检测GPC/SEC技术在高分子表征中的应用Ⅴ.PS-PI二嵌段共聚物

黄怿; 卜乐炜; 郝磊; 张德震; 苏诚伟; 徐种德

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采用体积排斥色谱法/示差折光指数/直角激光光散射/示差粘度三检测联用技术表征PS-PI二嵌段共聚物.计算了共聚物的均方末端距;验证了不同PS含量的PS-PI共聚物符合普适标定关系.结果表明在25 ℃的条件下,用体积排斥色谱法/示差折光指数/直角激光光散射/示差粘度三检测联用技术直接获得的PS-PI共聚物的特性粘数与用Ho-Duc方程计算得到的特性粘数基本吻合.

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来源
《功能高分子学报》 |2000年第1期|11-14|共4页
作者
黄怿; 卜乐炜; 郝磊; 张德震; 苏诚伟; 徐种德;
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作者单位

华东理工大学材料工程学院,上海,200237;

华东理工大学材料工程学院,上海,200237;

华东理工大学材料工程学院,上海,200237;

华东理工大学材料工程学院,上海,200237;

华东理工大学材料工程学院,上海,200237;

华东理工大学材料工程学院,上海,200237;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类高分子化学（高聚物）;
关键词
体积排斥色谱法; 多检测器; 表征; PS-PI共聚物; 均方末端距; 特性粘数;

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