SmSrMnO巨磁电阻材料晶格不稳定性研究

王耘波; 于军; 周文利; 魏龙

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SmSrMnO巨磁电阻材料晶格不稳定性研究

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对Ｓｍ２／３Ｓｒ１／３ＭｎＯ３＋ δ巨磁电阻材料样品在７７Ｋ至室温范围进行了正电子寿命谱和多普勒展宽谱测量．结果显示，正电子平均寿命τｍ随着温度的降低在２００～１５０Ｋ温区出现与晶格结构不稳定有关的反常下降，这一过程发生在磁有序起始温度之前；而伴随着绝缘体－金属型转变（１１５Ｋ），多普勒展宽谱参数Ｓ明显增加，表明了电子的离域化．

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来源
《华中科技大学学报：自然科学版》 |1999年第12期|19-20|共3页
作者
王耘波; 于军; 周文利; 魏龙;
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作者单位

华中理工大学电子科学与技术系;

中国科学院核分析技术开放实验室;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类各种磁性;
关键词
晶格不稳定性; 巨磁电阻材料; 锰氧化物; 钙钛矿型;

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