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陈永君; 邓赛文; 马天芳; 任家富;
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机译:使用椭偏仪和重量分析仪制定校准标准,以通过X射线荧光光谱法测量有机硅涂层的重量和厚度
机译:优化电镀层-具有X射线荧光层厚度分析仪的经验
机译:工业XRF涂层厚度分析仪在钢磷酸盐涂层厚度的应用
机译:X射线荧光分析法测量涂层厚度中不同金属的参数
机译:X射线荧光光谱法的Tosawihi争吵Chert的地球化学分析
机译:1217.使用X射线荧光光谱法(XRF)预测抗菌表面涂层的功效
机译:工业X射线荧光分析仪,用于轧制钢上铝涂层的实时厚度测量
机译:利用放射性同位素激发X射线荧光光谱法对有色金属矿浮选浆中主要元素(Cu,Zn,pb,Fe)进行在线分析。 1975年11月1日至1976年10月31日期间的最终报告
机译:使用能量D的X射线荧光光谱法测量厚的金属膜的厚度-在X射线的强度和厚度之间没有更多的相关性
机译:X射线荧光分析法分析合金镀层中的镀层。
机译:X射线荧光镀层厚度计,带有精细定位机制,用于样品
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