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放射源226Ra和133Ba的衰变γ能谱分析

         

摘要

采用p型同轴高纯锗探测器测量含226 Ra的荧光仪表盘与标准源133 Ba的衰变γ能谱,并分析特征γ射线的能量和强度.结果表明:226 Ra能谱中出现226 Ra的特征γ射线及大量226 Ra的衰变子核的特征γ射线;133 Ba谱中出现133 Ba特征射线及大量和峰,由计数率随距离变化关系及γ射线级联关系证明存在和峰.

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