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二维GeSe光电性质的第一性原理计算

         

摘要

GeSe作为二维材料的新成员,近年来引起了人们的广泛关注.文章采用第一性原理方法,选取PBE泛函和HSE06杂化泛函,研究了二维GeSe材料的电子结构和光学性质.结果表明:二维GeSe是带隙为1.56 eV的间接带隙半导体,价带顶和导带底分别位于Γ-Y方向和Γ-X方向,价带主要由Ge-4p和Se-4p杂化而成,且价带顶边缘附近出现Ge-4s态,这对二维GeSe的电子结构有重要影响;从能带结构和态密度出发,系统研究了二维GeSe的折射、消光和吸收等光学性质;介电函数虚部的第一个峰值出现在2.15 eV,对应电子从第一个价带到第一个导带的跃迁,主要是电子从Ge-s、Se-pz态到Ge-px、py、pz态的跃迁.沿zigzag方向和armchair方向的静态介电常数分别为7.56和7.00.二维GeSe的吸收边缘在1200 nm左右,对可见光波有很强的吸收且具有较强的光偏振敏感性.研究结果表明GeSe在光学和光电子等领域极具应用潜力.

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