基于改进型LFSR的低功耗MBIST地址生成器

虞致国; 李青青; 冯洋; 顾晓峰

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基于改进型LFSR的低功耗MBIST地址生成器

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存储器进行内建自测试(Mernory built-in self-test,MBLST)时,其功耗远远高于普通模式下的功耗,致使电路易损坏并降低了芯片成品率.针对上述问题,提出了一种改进的线性反馈移位寄存器,可在存储器内建自测试的地址序列生成过程中大幅降低翻转率.首先基于优化的地址分割比生成两个优化的、可逆的地址生成器,随后利用时钟信号分别控制两个地址生成电路的时序关系,最后对64 k×32 SRAM的MBIST的地址生成器进行了仿真验证.结果表明,改进的结构与传统的线性反馈移位寄存器(Linear feedback shift register,LFSR)的地址生成结构相比,地址序列间的翻转率和动态功耗分别降低了71.1％和68.2％,同时具有面积成本低、速度快等特点.

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来源
《测试科学与仪器》|2020年第3期|205-210|共6页
作者
虞致国; 李青青; 冯洋; 顾晓峰;
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作者单位

江南大学电子工程系江苏无锡 214122;

江南大学物联网技术应用教育部工程研究中心江苏无锡 214122;

江南大学电子工程系江苏无锡 214122;

江南大学物联网技术应用教育部工程研究中心江苏无锡 214122;

江南大学电子工程系江苏无锡 214122;

江南大学物联网技术应用教育部工程研究中心江苏无锡 214122;

江南大学电子工程系江苏无锡 214122;

江南大学物联网技术应用教育部工程研究中心江苏无锡 214122;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类存贮器;
关键词
地址序列; 线性反馈移位寄存器; 存储器内建自测试; 地址生成器; 翻转率;

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