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李素芝; 杨建华;
不详;
同态信号处理; 薄层厚度; 超声测量;
机译:用固体参考样品测量薄层厚度薄层厚度
机译:非接触式厚度测量仪“ OZUMA21”:通过背压测量技术精确测量厚度而无接触
机译:薄层厚度对CLT外平面方向弯曲性能的影响 - 薄层厚度小于或等于厚度的情况 -
机译:ITO薄膜的晶粒尺寸和厚度对薄层电阻和透射率的影响:TEM研究
机译:开式同轴探针的薄层厚度和介电常数的组合测量
机译:通过精确控制超薄层厚度的脉冲电位电沉积制备的Co / Cu多层晶体结构
机译:通过单传感器超声高分辨率轮廓测量法对不规则或粗糙表面样品进行精确厚度变化映射
机译:厚度变化测量装置和厚度变化测量方法,能够通过使用双刀来精确地测量厚度变化
机译:用于X =射线二次辐射后向散射薄膜厚度测量的定位系统-使用带有相对于测量单元的X射线束引导的光的光系统进行定位,用于根据后向散射原理测量薄层的厚度
机译:用于测量薄膜厚度的装置,能够在高分辨率下观察薄膜的厚度而精确地测量薄膜的厚度
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