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宋建全; 刘正堂; 于忠奇; 耿东生; 郑修麟;
西北工业大学,材料科学与工程系,陕西,西安,710072;
磁控溅射; 头罩; 膜厚均匀性; 模拟;
机译:硼掺杂硅膜的沉积模型及孔中膜厚分布的模拟
机译:膜厚对圆柱形旋转磁控溅射ITO膜的电,光学和结构性能的影响
机译:膜厚对反应磁控溅射在MgO衬底上沉积的外延TiC膜的形貌和电学性能的影响
机译:用于反应溅射的在线镀膜机沿传输方向的膜厚分布建模
机译:溅射靶腐蚀及其对长时间直流磁控溅射镀膜的影响
机译:直流磁控溅射性能的改进含保留Ar原子的Al掺杂ZnO多晶膜10nm厚的缓冲层
机译:基板温度和膜厚对HPPMS和直流磁控溅射Ge薄膜的热,电和结构性能的影响
机译:玻璃微球上厚铂涂层的射频磁控溅射
机译:离子镀膜装置及通过蒸镀/蒸镀膜的膜厚的沉积以及通过离子镀膜控制成分分布的方式
机译:膜厚分布预测方法,膜厚分布预测设备,膜厚确定方法以及膜厚确定和预测设备
机译:膜厚分布测定方法,膜厚分布测定装置及膜厚分布测定程序
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