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荧光分光光度法测定γ-(2,3环氧丙氧)丙基三甲氧基硅烷修饰的纳米二氧化硅表面的环氧基团

         

摘要

建立了荧光分光光度法测定γ-(2,3环氧丙氧)丙基三甲氧基硅烷修饰的纳米二氧化硅(GPTMS-Si02)表面环氧基团含量的方法.讨论了铵盐的种类和浓度、Ph值、乙酰丙酮的浓度、温度和时间对荧光强度的影响及荧光产物的稳定性.结果表明:当环氧基官能团的浓度在0.002 0~0.029 1 mmol·L-1范围内,荧光强度与其浓度呈良好的线性关系,r=0.9979.该方法重现性好、准确度较高,可用于GPTMS-SiO2表面环氧基团含量的测定.

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