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电离层对中高轨SAR影响机理研究

         

摘要

中高轨道合成孔径雷达(Synthetic Aperture Radar,SAR)是下一代星载SAR重要发展方向之一,电离层影响分析是推动中高轨道SAR系统发展的关键技术之一.该文利用电离层实测数据分析了电离层时空变化特征,根据电离层时空变化特性,结合中高轨道SAR合成孔径时间长、测绘带宽、轨道高等特点,从SAR成像理论角度出发,分别从距离向和方位向阐述了电离层对中高轨SAR成像质量的影响因素和影响机理,通过分析揭示了中高轨SAR电离层影响与低轨SAR的不同之处.

著录项

  • 来源
    《雷达学报》 |2017年第6期|619-629|共11页
  • 作者

    李亮; 洪峻; 明峰;

  • 作者单位

    中国科学院电子学研究所北京 100190;

    微波成像技术重点实验室北京 100190;

    中国科学院电子学研究所北京 100190;

    微波成像技术重点实验室北京 100190;

    中国科学院电子学研究所北京 100190;

    微波成像技术重点实验室北京 100190;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 雷达:按用途分;
  • 关键词

    电离层影响; 中高轨道SAR;

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