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房加强; 于治水; 苌文龙; 王波; 姜鹤明;
上海工程技术大学材料工程学院,上海201620;
微电子封装; 电迁移; 金属间化合物; 断裂失效;
机译:微压痕技术分析微电子封装中因蠕变和疲劳引起的焊点可靠性
机译:使用有限元分析模拟微电子封装中焊点的可靠性测试
机译:高温莫尔条纹法研究微电子封装中焊点的可靠性
机译:纳米尺度分析中BGA焊点剪切探针试验的粘结与剪切流动现象研究
机译:倒装芯片封装中焊点电迁移可靠性的研究
机译:锡焊点中电迁移引起晶粒旋转的原位同步加速器研究
机译:无铅焊点中电迁移现象的基本研究
机译:电迁移空洞的几何特征(电迁移空洞的统计分析)
机译:为了研究咀嚼过程中的现象-/-化学和/或生物现象以及分析液体部分和挥发物的方法,使用这种人工嘴
机译:一条这样的醋酸纤维素材料带,用于根据电迁移到金属的现象进行分析
机译:保护焊点的方法和减轻焊点电迁移和焦耳热的结构
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