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2-D nano-positioning system for AFM based on H∞ control

         

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    《上海大学学报(英文版)》 |2010年第5期|359-364|共6页
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  • 正文语种 eng
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  • 关键词

    机译:定位控制系统;定位精度;AFM;原子力显微镜;纳米操纵;压电陶瓷管;现代科学技术;前馈补偿控制;
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