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数字集成电路测试生成的一种专家系统方法

         

摘要

介绍了两种基于压缩二分决策图(BDD:Binary Dccision Diagram)并由压缩的BDD来进行测试生成的启发性方法,即临界二分树(CBT:Critical Binary Tree)和节点分决函数(ndf:node psrtition function)方法,它们虽然并不一定是最小化BDD,但它们减小了BDD,从而在专家系统环境下得以对大型数字系统进行测试。

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