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偶联剂CGE(N)-R型处理前后牙本质的表面状态及其荧光光谱

         

摘要

作者采用光镜、透射电镜及固体荧光测定考查了用自制偶联剂CGE(N)-R型处理前、后的牙本质面状态。光镜下显示,牙本质小管及其小孔,以脱钙后更为清晰。电镜下能直接观察到偶联剂晶体被牙本质吸附的状态。荧光光谱测定结果表明:偶联剂处理后的牙本质的荧光峰位红移达11~31nm,由此给出了偶联剂与牙本质之间化学结合的明确信息。为牙本质与偶联剂结合机理模式的建立提供了有力的实验依据。

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