采用虚拟样本加速退化试验的复杂电子设备可靠性评估

徐宇亮; 陈西宏; 孙际哲; 刘瑞峰; 范浩

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采用虚拟样本加速退化试验的复杂电子设备可靠性评估

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摘要

对复杂电子设备进行可靠性评估时,针对退化特征量难以确定和试验样本数目有限这两方面的困难,提出了一种基于虚拟样本加速退化试验(ADT)的电子设备可靠性评估新方法.将相对贴近度的概念引入到退化监测数据的处理中,以相对贴近度为退化特征量,并对原始样本进行虚拟增广,同时对增广样本数据加以修正处理,从而形成电子设备各应力下的退化轨迹.将该方法与传统的可靠性预测方法相结合,有效地解决了加速退化试验中极少样本数据的处理问题.实例分析表明:电子设备的预测寿命与出厂时标定使用寿命的误差为5.93％,86.27％的样品设备使用寿命超过9 a,说明该方法可行、有效,并大大提高了试验的效费比.

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来源
《西安交通大学学报》|2013年第6期|79-84|共6页
作者
徐宇亮; 陈西宏; 孙际哲; 刘瑞峰; 范浩;
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作者单位

空军工程大学防空反导学院,710051,西安;

中国人民解放军93655部队,101500,北京;

空军工程大学防空反导学院,710051,西安;

空军工程大学防空反导学院,710051,西安;

空军装备研究院防空所,100085,北京;

空军装备研究院防空所,100085,北京;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类监视、报警、故障诊断系统;电气设备;
关键词
复杂电子设备; 加速退化试验; 可靠性评估; 退化模型; 虚拟样本;

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