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Craig S.SCHWANDT;
McCrone Associates, Inc., 850 Pasquinelli Dr., Westmont, IL 60559, U.S.A.;
机译:使用低角度反向散射电子检测器表征纳米级材料
机译:通过多检测器流体动力学色谱法表征珠状胶体二氧化硅,并与多检测器尺寸排阻色谱法,离线多角度静态光散射法和透射电子显微镜法进行比较
机译:多检测器流体动力学色谱法表征珍珠串胶体二氧化硅,并与多检测器尺寸排阻色谱法,离线多角度静态光散射法和透射电子显微镜法进行比较
机译:利用自动电子反向散射衍射技术对孪晶进行高级表征
机译:使用电子反向散射图案对应变进行定性检查,该电子反向散射图案在扫描电子显微镜中采用35MM相机机身。
机译:在变压扫描电子显微镜中使用反向散射电子检测器对植物组织中的细胞表面和细胞轮廓成像
机译:通过透射电子显微镜,离子束反向散射和低角度X射线衍射表征TiN / B-C-N多层膜
机译:利用特征X射线和反向散射电子对电子束进行材料分析的方法
机译:利用特征X射线和反向散射电子对聚焦电子束进行材料分析的方法和装置
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