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纳米粒子晶格畸变率的数量级研究

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摘要

晶格畸变率是纳米粒子的一个重要参数.用X射线衍射积分宽度法确定了纳米CeO2粒子的晶格畸变率,研究了晶格畸变与晶拉度之间的关系,结合已有资料讨论了纳米粒子晶格畸变率的数量级大小.结果表明,不合理的计算方法可能会导致计算出来的晶格畸变值严重失实.

著录项

来源
《材料导报》 |2002年第6期|71-73|共3页
作者
刘建路; 张其春; 林金辉;
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作者单位

成都理工大学应用化学系,成都,60059;

成都理工大学应用化学系,成都,60059;

成都理工大学材料科学与工程系,成都,60059;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类工程材料学;
关键词
纳米粒子晶格畸变 X射线衍射积分宽度法;

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