半导化BST陶瓷晶粒生长的显微表征

熊兆贤; 冼定国

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采用显微方法研究半导化（Ｂａ０．９Ｓｒ０．１）（Ｔｉ０．９９９Ｎｂ０．００１）Ｏ３陶瓷晶粒生长的动力学因子，同样化学配方的八种样品在１３００℃中保温时间分别为１，３，６，１０，３０，６０，１００和３００分钟，扫描电镜照片（ＳＥＭ）显示八种样品的平均晶粒大小随保温时间延长而增大，经自动图像处理得到的晶粒生长动力学因子不是常数，在生长初期较小（≈１．５）而在生长后期较大（≈３．５），该数据与ＡＢＯ３型构造的陶瓷晶粒生长的计算机模拟结果一致。

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来源
《材料导报》 |2000年第Z10期|175-177|共3页
作者
熊兆贤; 冼定国;
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作者单位

厦门大学材料科学与工程系,厦门;

香港理工大学应用物理系,材料研究中心,香港;

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原文格式 PDF
正文语种 CHI
中图分类 TQ174.758;
关键词
半导体陶瓷; BST陶瓷; 陶瓷晶粒; 显微表征;

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