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罗海林; 王琼;
武汉大学理学院加速器实验室;
离子注入; 发光; 掺杂; 深能级缺陷; 氮化镓;
机译:封盖材料和GaN极性在镁离子注入活化中的作用
机译:通过将Mg离子注入形成在高质量自支撑GaN衬底上的n〜-GaN外延层中形成确定的GaN p-n结
机译:GaN离子注入剂量和退火温度的增加对AlGaN / GaN超晶格和GaN外延层中光致发光的影响
机译:盖层材料在低温帽中的影响Mg离子注入GaN的电学性能
机译:GaN-SiC界面处具有GaN微坑的AlGaN / GaN HEMT中的散热分析
机译:具有ALD-Al2O3栅极电介质的全离子注入常关GaN DMOSFET
机译:高击穿电压和低动态导通电阻AlGaN / GaN HEMT在SINX钝化层中具有氟离子注入
机译:通过离子注入掺杂GaN:它是否有效
机译:通过GaN中的离子注入进行边缘终止
机译:制造p型GaN基复合半导体的方法,激活包含在GaN基复合半导体中的p型掺杂剂的方法,GaN基复合半导体器件以及GaN基复合半导体光发射器
机译:制造p型基于gan的复合半导体的方法,激活包含在基于gan的复合半导体中的p型掺杂剂的方法,基于gan的复合半导体装置以及基于gan的复合半导体光导体
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