DAST晶体XPS数据分析基准的讨论

蔺娴; 李雨辰; 王鑫

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为了方便地表征4-(4-二甲基氨基苯乙烯基)甲基吡啶对甲基苯磺酸盐(DAST)的性质,采用X射线光电子能谱仪(XPS)分别对两种原粉的DAST晶体、吸附有一定量水的DAST籽晶和新制备的DAST籽晶进行了表面元素分析。通过分析数据,并选取其中合适峰位的元素作为数据分析时的基准。结果表明,DAST晶体中的C、N、O元素均不适合作为XPS数据分析的基准元素,可能来源于表面沾污的Si元素也不能作为数据分析的基准,而将晶体中硫元素(167.50eV)作为基准,校准数据后分析C、N元素,其结果是合理的。

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来源
《材料导报》 |2018年第a02期|85-88|共4页
作者
蔺娴; 李雨辰; 王鑫;
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作者单位

中国电子科技集团公司第四十六研究所质检中心;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类材料腐蚀与保护;
关键词
DAST; 晶体; XPS; 数据分析; 基准;

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