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基于误差校正的高精度三维测量系统

         

摘要

基于投影仪的结构光三维测量系统已得到了广泛的应用,但由于投影仪与相机的非线性特点,使用现有相位恢复算法得到的相位值具有一定的误差,影响了三维测量的精度。提出了一种基于二次型误差校正的高精度相位恢复算法。通过对标准平板进行相位恢复,分析其误差分布特征;用二次多项式对该误差进行逼近,得到误差的分布规律;根据求出的二次型误差模型对投影仪结构光系统得到的初始相位值进行修正,得到了高精度的相位恢复结果。实验表明,该算法比现有算法具有更高的相位恢复和三维测量精度。

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