首页> 中文期刊> 《测控技术》 >确定测试性设计要求的方法

确定测试性设计要求的方法

         

摘要

讨论了测试性或机内测试和监控子系统的设计要求,描述了BIT性能参数、数学模型和确定测试性要求的程序。并提出了确定故障检测率、故障隔离率和虚警率要求值的方法。这对于制定BIT、监控/诊断子系统的技术规范是非常重要的。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号