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泛华测控牵手NI联合参加2010中国汽车测试展

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泛华测控携手美国NI公司在“2010汽车测试及质量监控博览会”中共同探讨了汽车电子产品测试发展的未来。

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《测控技术》 |2010年第10期|111-112|共2页
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正文语种 chi
中图分类 TP216;
关键词
汽车测试; NI公司; 测控; 中国; 产品测试; 汽车电子; 质量监控; 博览会;

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