晶粒尺寸对织构测试的影响与大晶粒薄带材样品的织构测试

王颖; 胡小军

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晶粒尺寸对织构测试的影响与大晶粒薄带材样品的织构测试

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通过比较不同晶粒尺寸立方系样品的极图测试结果，分析了样品晶粒尺寸对极图测试的影响。当样品晶粒细小时，可以用常规方法进行织构测试；对较大晶粒样品当测试谱线失去了对称性时或晶粒尺寸更大时，无法采用常规方式测试。对于因晶粒较大而无法采用常规织构测试的薄带材样品，通过从样品侧面测得不完全极图并经过ODF转换计算的方法可以得到样品的织构。结果表明，这种方法可以较好地解决大晶粒薄带材样品的织构测试问题。

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来源
《金属材料研究》 |2009年第4期|P.35-37|共3页
作者
王颖; 胡小军;
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作者单位

北京北冶功能材料有限公司,北京100192;

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原文格式 PDF
正文语种 CHI
中图分类轻有色金属及其合金;
关键词
织构; 极图测试; 取向分布函数; 薄带材; X射线衍射;

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