等倾与相移两种干涉仪的平面度绝对测量比对

王青; 顾洋

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等倾与相移两种干涉仪的平面度绝对测量比对

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采用三平面互检测量方法,分别在等倾干涉仪和相移干涉仪上对平晶平面度进行了绝对测量比对.针对两种干涉仪不同的测量原理,提出了一种规范方法以从相移干涉仪数十万点阵测量数据中,提取符合等倾干涉仪测量数据格式的结果;对比等倾干涉仪的结构与环境控制方法,研究了相移干涉仪进行平面度绝对检验过程中的温度、温度梯度、温度分层情况,采取双重保温措施下达到了0.002μm的测量重复性,和0.01μm的绝对检验测量不确定度.与等倾干涉仪的检定结果的差异小于0.01μm,证明了相移干涉仪用于平晶的平面度检定工作可行性.

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来源
《计测技术》 |2018年第2期|30-33|共4页
作者
王青; 顾洋;
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作者单位

南京理工大学, 江苏南京210094;

南京理工大学, 江苏南京210094;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类长度计量;
关键词
平面度; 相移干涉仪; 等倾干涉仪; 三平面互检;

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