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基于改进模板匹配的芯片缺陷检测方法

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摘要

提出了一种改进的模板匹配方法。该方法是在传统的模板匹配方法的基础上,通过对模板匹配算法的改进,以达到更快速的匹配结果。实验结果表明,此方法可以快速测出管脚个数及间距.系统检测精度高,实时性好,满足在线检测的要求。

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来源
《科技与创新》 |2007年第1s期|135-136|共2页
作者
王平; 白秀玲;
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作者单位

河南科技大学电子信息工程学院;

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正文语种 chi
中图分类信息处理（信息加工）;
关键词
IC芯片缺陷; 模板匹配; 图象处理;

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