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时序电路测试向量的压缩

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摘要

时序电路测试生成算法产生的向量存在冗余。针对此问题提出一种压缩算法,减少测试序列的总长度,从而减少了仿真的时间和ATE设备的测试的时间,加速了测试的流程。实验结果表明,这种方法实现了较高的压缩效率,同时对测试序列的故障覆盖率和故障分辨率等参数影响很小。

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来源
《科技与创新》 |2006年第19期|172-174|共3页
作者
于文忠; 牛道恒; 杨士元;
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作者单位

清华大学自动化系;

清华大学自动化系;

清华大学自动化系 100084北京硕士;

100084北京;

100084北京;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类电路理论;
关键词
自动测试; 时序电路; 向量压缩; OCTOPUS100; ATE;

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