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朱育飞; 李冬梅;
清华大学,微电子学研究所,北京,100084;
清华大学,电子工程系,北京,100084;
内建自测试; 模/数转换器; 三角波信号发生器; 反馈控制电路;
机译:用于低开销ADC BIST的片上信号发生器
机译:用于片上ADC测试的一位S△的刺激产生
机译:用于片上ADC测试的高精度三角波信号发生器
机译:适用于片上实施和ADC内置自检解决方案的技术,可实现低成本和准确的ADC测试
机译:片上双光子代谢成像用于药物毒性测试
机译:完全差分4-V输出范围14.5-ENOB逐步斜坡刺激发生器,用于ADC的片上静态线性测试
机译:用于测试欧洲III-VEB夹层紧固件的测试程序提供了一种测试程序,用于在VEB锥体上安装设备的插件的工程测试。这些测试包括拉伸,剪切和扭矩测试。
机译:具有用于列ADC的片上测试模式的图像处理系统
机译:用于列ADC的带片上测试模式的图像处理系统
机译:用于sigma-delta ADC的测试信号发生器
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