基于扫描的SoC全速测试及应用

胡晋

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介绍了在系统级芯片(SoC)测试中所用到的基于扫描结构的全速测试.首先介绍了转换故障模型和路径延迟故障模型,以及测试时采用的具体的两种测试方法,然后总结了一些测试时要注意的事项.最后结合上述理论,对一款基于ARM的自主研发SoC芯片进行了实验,并用时序测试矢量对stuck-at故障进行模拟,减少了测试矢量的个数,节约了测试成本,得到了预期的结果.

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来源
《现代电子技术》 |2007年第8期|192-194|共3页
作者
胡晋;
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作者单位

东南大学,集成电路学院,江苏,南京,210096;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类调整、测试、校验;
关键词
片上系统; 扫描; 全速测试; ARM;

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