SoC可测性设计中的几个问题

金志刚; 罗岚; 胡晨

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介绍了SoC可测性设计中的几个重要问题.包括在一般功能模块的扫描可测性设计中,如何实现对时钟、复位端、双向端口、芯片内部三态总线的控制,如何处理组合反馈环、锁存器、不同时钟沿触发的触发器、影子逻辑;以及在片上存储器内建自测试设计中,如何选择自测试的结构和算法.并结合一款基于ARM的SoC给出了实际可测性设计中具体的解决方法.

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来源
《现代电子技术》 |2006年第5期|87-89|共3页
作者
金志刚; 罗岚; 胡晨;
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作者单位

东南大学,国家专用集成电路系统工程研究中心,江苏,南京,210096;

东南大学,国家专用集成电路系统工程研究中心,江苏,南京,210096;

东南大学,国家专用集成电路系统工程研究中心,江苏,南京,210096;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类调整、测试、校验;
关键词
可测性设计; 扫描; 内建自测试; 片上系统;

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