基本参数X射线荧光光谱法分析贵金属合金样品

詹秀春; 梁国立; 陈勇君

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基本参数X射线荧光光谱法分析贵金属合金样品

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基本参数法具有校准元素间的相互影响的功能,同时由于在其浓度归一化的过程中能够消去测量面积和探测立体角项,因此具有校正样品测量面积和形状影响的能力,十分适于贵金属合金及其饰物的分析。本文报道用R Ⅸ 2100型X射线荧光光谱仪分析贵金属合金及其饰物样品的方法。实验表明,通过选择适当的测量谱线和背景测量角度,并将邻近谱线对测量谱线背景的影响作为谱线重叠处理,可以确保分析的准确度。同一样品不同测量面积下得到的分析值的一致性良好;形状与标准样相差很大的实际样品的分析结果也令人满意。用不同样品各进行8次重复分析得到的各元素的分析精密度(RSD％)分别为:Au(96.99％)=0.02,Au(75.00％)=0.04;Ag(1.02％)=1.48,Ag(8.96％)=0.35;Cu(1.00％)=0.83,Cu(15.97％)=0.15;Zn(1.01％)=0.70;Pt(80.00％)=0.03;Pd(19.92％)=0.17;Ni(99.99％)=0.004。

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来源
《现代仪器与医疗》 |1999年第5期|16-18|共3页
作者
詹秀春; 梁国立; 陈勇君;
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作者单位

国家地质实验测试中心;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类贵金属、铂族金属及其合金;
关键词
X线射线; 荧光光谱; 分析; 贵金属合金;

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