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日立高新技术可进行稳定纳米级分析的透射式电子显微镜上市

     

摘要

2007年5月14日,日立高新技术(HitachiHighTechnologies)推出新型场发射型透射式电子显微镜(FE—TEM)“HF-3300型”,分辨率为0.1nm、能够以纳米级别的分辨率稳定地分析原子水平的极微小材料。

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