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弯曲损耗不敏感单模光纤谱衰减性能测试分析

         

摘要

本文通过研究分析大量的实验测试数据,探讨了光纤中高阶模对于弯曲不敏感单模光纤谱衰减测试准确性的影响,并提出了相应的解决方案.

著录项

  • 来源
    《现代传输》 |2014年第2期|49-51|共3页
  • 作者单位

    信息产业有线通信产品质量监督检验中心 成都610062;

    康宁(上海)光纤有限公司 上海200233;

    康宁通信(大中华区) 上海200233;

    北京邮电大学信息光子学和光通信国家重点实验室 北京100876;

    信息产业有线通信产品质量监督检验中心 成都610062;

    信息产业有线通信产品质量监督检验中心 成都610062;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类
  • 关键词

    弯曲不敏感单模光纤; 高阶模; 谱衰减; 测试;

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