直流读出的THGEM探测系统及其在X射线上的应用

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• 来源
  《核电子学与探测技术》 |2011年第8期|835-839,866|共6页
• 作者

  陈石; 杨亚聃; 董洋; 李敏; 刘宏邦; 郑阳恒; 谢一冈; 阮向东; 王焕华; 陈雨; 俞伯祥; 唐爱松;

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• 作者单位

  中国科学院研究生院,北京100049;

  广西大学,广西南宁530004;

  中国航天科工集团第二研究院699厂,北京100039;

  中国航天科工集团第二研究院699厂,北京100039;

  中国航天科工集团第二研究院699厂,北京100039;

  中国科学院研究生院,北京100049;

  广西大学,广西南宁530004;

  中国科学院研究生院,北京100049;

  中国科学院研究生院,北京100049;

  中国科学院高能物理研究所,北京100049;

  广西大学,广西南宁530004;

  中国科学院高能物理研究所,北京100049;

  中国科学院高能物理研究所,北京100049;

  中国科学院高能物理研究所,北京100049;

  中国航天科工集团第二研究院699厂,北京100039;

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• 原文格式 PDF
• 正文语种 chi
• 中图分类 原子核物理学、高能物理学;
• 关键词

  THGEM; 直流模式; 多路读出X射线; 绝对强度;