用正电子湮没技术研究黄玉的辐照变色机理

邓勇军; 张一云

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通过对天然无色黄玉、快中子辐照变色黄玉、高能电子辐照变色黄玉以及辐照变色黄玉退火过程的正电子湮没寿命谱的对比分析研究,结果表明:中子、电子辐照均不同程度地在黄玉中产生了相当数量的缺陷.从而造成黄玉的变色,而辐照变色黄玉高温退火后,相当数量的缺陷消失,从而导致改色后黄玉的退色. 在此基础度上对黄玉的呈色机理作了探讨,并对黄玉的改色工艺作了大胆的预测.

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来源
《核电子学与探测技术》 |2004年第1期|62-66|共5页
作者
邓勇军; 张一云;
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作者单位

中国原子能科学研究院,北京,102413;

中国原子能科学研究院,北京,102413;

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正文语种 chi
中图分类 O571.322;
关键词
黄玉; 辐照; 改色; 正电子湮没; 缺陷; 呈色机理;

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