BaF2正电子寿命谱仪时间分辨率的改进

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• 来源
  《核电子学与探测技术》 |2004年第5期|490-491,510|共3页
• 作者

  章志明; 王宝义; 马创新; 周春兰; 魏龙; 张天保; 任绍霞;

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• 作者单位

  中国科学院高能物理研究所核分析室,北京,100039;

  中国科学院高能物理研究所核分析室,北京,100039;

  中国科学院高能物理研究所核分析室,北京,100039;

  中国科学院高能物理研究所核分析室,北京,100039;

  中国科学院高能物理研究所核分析室,北京,100039;

  中国科学院高能物理研究所核分析室,北京,100039;

  北京玻璃研究院,北京,100062;

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• 原文格式 PDF
• 正文语种 chi
• 中图分类 闪烁探测技术和仪器;各种射线及其衰变;
• 关键词

  BaF2晶体; 正电子湮灭寿命谱仪; 时间分辨率;