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辐射成像无损检测技术中辐射源几何尺寸引起图像模糊的恢复

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摘要

对辐射成像无损检测系统中辐射源几何尺寸引起的图像模糊进行了分析,并测量了辐射源模糊的冲击响应函数.利用维纳滤波对模糊图像进行恢复.对其中的图像信号功率谱和噪声功率谱提出新的计算方法.

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来源
《核电子学与探测技术》 |2002年第1期|17-19|共3页
作者
顾伯华; 周立业; 安继刚;
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作者单位

清华大学核能技术设计研究院,北京,100084;

清华大学核能技术设计研究院,北京,100084;

清华大学核能技术设计研究院,北京,100084;

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正文语种 chi
中图分类图像处理软件;辐射探测技术和仪器仪表;
关键词
辐射成像无损检测系统; 图像模糊; 冲击响应函数; 图像恢复; 维纳滤波功率谱;

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