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用LiF-TLD测量氚表面污染及刻度技术

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本文介绍用LiF（Mg,Ti）热释光探测器（TLD）的异常发光曲线测冠氚气瓶螺母上的氚表面污染结果,讨论了用氚钛靶源刻度氚β射线的IL响应的技术。在样品照射30h情况下,此方法的探测下限为400 Bq/cm~2。

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来源
《核电子学与探测技术》 |1986年第2期|80-83|共4页
作者
陈霓;
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作者单位

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正文语种 chi
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关键词
LiF（Mg; Ti）—TLD; 氚表面污染; 刻度;

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