正电子湮没寿命测量中干扰信号对谱仪和测量结果的影响

王垒; 彭雄刚; 张红强; 于润升; 张鹏; 伍海彪; 吴亚茹; 王宝义; 曹兴忠; 肖德涛; 刘福雁

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正电子湮没寿命测量中干扰信号对谱仪和测量结果的影响

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正电子湮没信号的精准采集与关联符合技术是寿命谱灵敏表征材料微观缺陷的基础。测量环境中放射性射线对正电子湮没信号采集的影响,制约着寿命谱方法在复杂辐射背景中应用,特别是在核结构材料中子辐照损伤研究中,中子活化诱发的放射性核素形成的γ射线本底,将影响正电子寿命谱仪的测量结果。为探究γ本底对正电子湮没寿命测量的影响规律,本文基于^(60)Co、^(137)Cs源设计了辐射背景仿真实验,结果显示:^(60)Co源产生的双高能γ射线是影响寿命谱形状及湮没寿命的主要因素;通过对比高、低两种典型活度比(^(60)Co/^(22)Na为3.3和1.9)下的测量结果,并经活化反应堆压力容器钢样品放射性本底真实情况检验,结果发现:在低活度比下,辐射本底导致的偶然符合概率增大,寿命谱峰谷比显著变差;在高活度比下,除偶然符合外,信号错误符合概率急剧增加,谱形明显畸变且寿命值迅速减小。基于本文辐射背景放射源模拟方法及干扰γ的影响规律,可进一步探索正电子湮没寿命测量中γ本底排除的新技术和新方法。

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来源
《核技术》 |2023年第6期|53-59|共7页
作者
王垒; 彭雄刚; 张红强; 于润升; 张鹏; 伍海彪; 吴亚茹; 王宝义; 曹兴忠; 肖德涛; 刘福雁;
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作者单位

南华大学核科学技术学院;

衡阳421001;

中国科学院高能物理研究所;

北京100049;

中国科学院大学;

北京100049;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类谱仪;
关键词
寿命谱; 峰谷比; 偶然符合; 错误符合; 活度比;

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