基于MCNP提取X射线透射图像双能值的数值方法

项安; 陈瑞焘

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基于MCNP提取X射线透射图像双能值的数值方法

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传统的双能X射线检测技术使用与物质原子序数相关的特征值进行物质分类,但由于该特征值与被检物体的厚度有关(厚度效应),影响了双能检测方法的可靠性.为此提出了一种利用辛普森公式以及序列二次规划法的数值算法,以消除双能值的厚度效应.用基于MCNP的蒙特卡罗方法模拟双能X射线检测过程,结合概率密度分类法证明该算法能显著降低物质分类的错误概率,且得到了不同物质的分类边界.用X射线安检机进行测试,结果表明该算法显著消除了物质的厚度效应,且分类边界有效.说明本文算法的有效性与实用性.

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来源
《核技术》 |2014年第7期|23-30|共8页
作者
项安; 陈瑞焘;
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作者单位

同济大学电气工程系上海201804;

同济大学电气工程系上海201804;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类原子能技术的应用;
关键词
X射线; 特征值; 厚度效应; 数值算法; MCNP;

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