HPGe探测器对圆形面源探测效率的研究

张小林; 余功硕; 李元景; 许启初; 解峰; 白涛

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HPGe探测器对圆形面源探测效率的研究

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实验刻度了GEM60P4型高纯锗(High Purity Germanium,HPGe)探测器在H=250 mm处对三种圆形面源(φ24 mm、φ80 mm和φ90 mm)的峰探测效率,结果表明,这三种源的效率基本一致.采用MCNP模拟了φ40-160 mm内的圆形面源效率,研究了探测效率随样品直径的变化关系,并采用Geant4计算了圆形面源对同轴探测器的有效立体角.对φ90 mm以上的样品源,探测效率随源直径的增大在逐渐减小,且高能γ射线效率减小程度较快,需采用标准源进行效率刻度.

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来源
《核技术》 |2014年第7期|53-57|共5页
作者
张小林; 余功硕; 李元景; 许启初; 解峰; 白涛;
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作者单位

清华大学工程物理系北京100084;

西北核技术研究所西安710024;

西北核技术研究所西安710024;

清华大学工程物理系北京100084;

西北核技术研究所西安710024;

西北核技术研究所西安710024;

西北核技术研究所西安710024;

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正文语种 chi
中图分类 TL817.2;
关键词
高纯锗(High Purity Germanium,HPGe)探测器; 圆形面源; 探测效率;

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