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层析γ扫描探测效率的无源刻度

         

摘要

层析γ扫描是准确定量测量中、高密度非均匀分布介质中的放射性素及其含量的重要方法,其中探测效率的确定是其关键技术之一.本文结合实验室层析γ扫描测量装置,采用蒙特卡洛方法,运用空间对称性简化计算模型,提出层析γ扫描探测效率无源刻度方法.计算机模拟和实验结果都表明了该方法的正确性和有效性.

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