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PNP输入双极运算放大器ELDRS效应的60Coγ辐照高温退火评估方法

         

摘要

选用了三种型号的PNP输入双极运算放大器,在正偏和零偏状态下进行了辐照实验,由此对高剂量率辐照后高温退火加速评估方法进行了探索.结果表明,辐照后高温退火的实验结果乘以一定的倍数因子,便可较好地模拟PNP输入双极运算放大器的低剂量率辐照损伤,根据曲线的变化规律可以较快地鉴别器件是否存在低剂量率辐射损伤增强效应.

著录项

  • 来源
    《核技术》 |2011年第11期|810-814|共5页
  • 作者单位

    中国科学院新疆理化技术研究所 乌鲁木齐830011;

    新疆电子信息材料与器件重点实验室 乌鲁木齐830011;

    中国科学院研究生院 北京100049;

    中国科学院新疆理化技术研究所 乌鲁木齐830011;

    新疆电子信息材料与器件重点实验室 乌鲁木齐830011;

    中国科学院新疆理化技术研究所 乌鲁木齐830011;

    新疆电子信息材料与器件重点实验室 乌鲁木齐830011;

    中国科学院研究生院 北京100049;

    中国科学院新疆理化技术研究所 乌鲁木齐830011;

    新疆电子信息材料与器件重点实验室 乌鲁木齐830011;

    中国科学院研究生院 北京100049;

    中国科学院新疆理化技术研究所 乌鲁木齐830011;

    新疆电子信息材料与器件重点实验室 乌鲁木齐830011;

    中国科学院研究生院 北京100049;

    中国科学院新疆理化技术研究所 乌鲁木齐830011;

    新疆电子信息材料与器件重点实验室 乌鲁木齐830011;

    中国科学院研究生院 北京100049;

    中国科学院新疆理化技术研究所 乌鲁木齐830011;

    新疆电子信息材料与器件重点实验室 乌鲁木齐830011;

    中国科学院研究生院 北京100049;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 双极型;
  • 关键词

    双极运算放大器; 60Co γ辐照; 低剂量率辐射损伤增强效应; 加速评估方法;

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